エム・テクニック株式会社

  • お問い合わせ

研究開発のご案内研究開発のご案内

保有分析機

走査透過型電子顕微鏡
(STEM)

Scanning Transmission Electron Microscope

概 要

電子線を試料上で走査し、透過してきた電子線で透過像を作り出すことで、対象物を観察する方法。ナノ粒子の大きさや形状、化学組成や元素配列や結晶性等の評価に応用。

測定対象

各種ナノ粒子(合金、複合酸化物、有機物等)

仕 様
  • 原子分解能分析電子顕微鏡:
    JEM-ARM200F(UHR) JEOL製
  • BF/ABF/HAADF像
  • 走査透過像: 200~150,000,000 倍
  • 透過顕微鏡像: 50~2,000,000 倍
  • エネルギー分散型X線分析(EDS)
    NORAN SYSTEM7
  • 定性/定量/マッピング仕様
  • 検出元素:B〜U
分析例
  • 固溶体合金ナノ粒子
  • 固溶体有機顔料ナノ粒子等の元素マッピング

エム・テクニック株式会社

〒594-1144 大阪府和泉市テクノステージ2丁目2番16号

TEL:0725-54-0096 FAX:0725-53-3332