X線回折装置
（XRD）

X-ray Diffraction

概 要

一定波長のX線を試料に照射し、散乱したX線の回折パターンから、物質を構成している成分の格子定数を測定する方法。ナノ粒子粉体の同定や、結晶性・配向性、歪み等の評価に応用。高温アタッチメントを用いることにより、試料を加熱しながら、最高温度 1200℃までの測定が可能。小角散乱（SAXS）を測定することにより、1nm ～ 100nm までの粒子径分布解析が可能。