透過型電子顕微鏡
（TEM）
Transmission Electron Microscope
概 要
試料に電子線をあて、それを透過してきた電子が作り出す干渉像を拡大して観察する方法。
ナノ粒子の大きさや形状、化学組成や結晶性等の評価に応用。
測定対象
各種ナノ粒子（金属、合金、酸化物、有機顔料、医薬品等）
仕 様
- 透過電子顕微鏡：JEM-2100(HR) JEOL製
- エネルギー分散型X線分析（EDS）：JED-2300
- 観察倍率：2,000～1,500,000倍
- 検出元素：B〜U
分析例
- ナノ粒子（粒子径、形状、結晶性等）
